National Repository of Grey Literature 1 records found  Search took 0.01 seconds. 
Scalable thermal model of a transistor package
Klement, Matej ; Junasová, Veronika (referee) ; Otáhal, Alexandr (advisor)
Diplomová práca popisuje problematiku simulovania ohrievania diskrétnej súčiastky tranzistoru v rámci jeho vlastného zapuzdrenia. V práci boli popísané dve metódy merania teplotného odporu na základe informácií z noriem organizácie JEDEC. Model tranzistoru bol simulovaný pomocou metódy konečných prvkov v programe Ansys ICEPAK so sledovaním teploty spoju voči teplote puzdra. Časovou simuláciou ohrievania v kombinácií s menením parametrov bola vytvorená sada ohrievacích kriviek pre všetky konfigurácie tranzistoru. Ohrievacie krivky boli transformované na spektrum časových konštánt na základe algoritmov popísaných v normách JEDEC. Tieto algoritmy boli pre účely diplomovej práce implementované v programovacom jazyku Python. Jednotlivé časové spektrá boli zjednodušené do dvoj-prvkovej teplotnej siete v prevedení Foster-typu. Všetky tieto teplotné siete boli ďalej transformované do teplotnej siete Cauer-typu. Pre každý parameter v parametrickej simulácii boli vytvorené interpolačné funkcie hodnôt teplotných sietí. Na základe interpolačných funkcií bol vytvorený škálovateľný teplotný model, ktorý bol následne simulovaný v programe LTSpice a jeho výsledky porovnané s výsledkami zo simulácie metódy konečných prvkov.

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.