|
|
Microstructure and properties of multiferroic complex oxide thin films prepared by pulsed laser deposition method
Machovec, Petr ; Dopita, Milan (advisor)
Title: Microstructure and properties of multiferroic complex oxide thin films prepared by pulsed laser deposition method Author: Petr Machovec Department: Department of Condensed Matter Physics Supervisor: RNDr. Milan Dopita, Ph.D., Department of Condensed Matter Physics Abstract: In the frame of this thesis, structure, microstructure, and real structure of multiferroic epitaxial layers of LuFeO3 were studied by means of X-ray reflectivity and X-ray diffraction. In theoretical part the theory of X-ray scattering on crystalline layers is described. Standard description of X-ray reflectivity on series of rough layers is presented. Moreover, a model of X-ray scattering on mosaic layer is described. For experimental part of the work three samples were prepared by pulsed laser deposition method. First sample on sapphire substrate (Al2O3), second on platinum layer deposited on sapphire substrate and third on yttrium stabilized zirconia substrate. From the X-ray reflectivity curves the parameters such as layer thickness, interface roughness, surface roughness and material density, were determined. By analysing measured reciprocal space maps, lattice parameters and mosaic model parameters, such as mean mosaic block size, mosaic block size distribution, mosaic block misorientation and residual microstrain, were...
|
|
|
Microstructure and properties of multiferroic complex oxide thin films prepared by pulsed laser deposition method
Machovec, Petr ; Dopita, Milan (advisor) ; Kužel, Radomír (referee)
Title: Microstructure and properties of multiferroic complex oxide thin films prepared by pulsed laser deposition method Author: Petr Machovec Department: Department of Condensed Matter Physics Supervisor: RNDr. Milan Dopita, Ph.D., Department of Condensed Matter Physics Abstract: In the frame of this thesis, structure, microstructure, and real structure of multiferroic epitaxial layers of LuFeO3 were studied by means of X-ray reflectivity and X-ray diffraction. In theoretical part the theory of X-ray scattering on crystalline layers is described. Standard description of X-ray reflectivity on series of rough layers is presented. Moreover, a model of X-ray scattering on mosaic layer is described. For experimental part of the work three samples were prepared by pulsed laser deposition method. First sample on sapphire substrate (Al2O3), second on platinum layer deposited on sapphire substrate and third on yttrium stabilized zirconia substrate. From the X-ray reflectivity curves the parameters such as layer thickness, interface roughness, surface roughness and material density, were determined. By analysing measured reciprocal space maps, lattice parameters and mosaic model parameters, such as mean mosaic block size, mosaic block size distribution, mosaic block misorientation and residual microstrain, were...
|
|
|
Microstructure of carbon black nanomaterials studied by X-ray scattering
Machovec, Petr ; Dopita, Milan (advisor) ; Horák, Lukáš (referee)
Název práce: Studium mikrostruktury uhlíkových nanomateriálů pomocí rentgenové difrakce Autor: Petr Machovec Katedra: Katedra fyziky kondenzovaných látek Vedoucí bakalářské práce: RNDr. Milan Dopita, Ph.D., Katedra fyziky kondenzovaných látek Abstrakt: Předkládaná práce se zabývá studiem mikrostruktury, struktury a reálné struktury turbostratického uhlíku a uhlíkových nanotrubic pomocí metod rozptylu rentgenového záření. Klastry turbostratického uhlíku jsou popsány pomocí sady fyzikálních parametrů. Pomocí počítačových simulací je popsán vliv těchto parametrů na výslednou rozptylovou křivku. Dále je předkládán popis dvou typů uhlíkových nanotrubic a je popsán vliv typu a rozměrů uhlíkových nanotrubic na výslednou rozptylovou křivku. Pro experimentální část práce byla připravena série vzorků turbostratického uhlíku žíhaného při teplotách 300℃, 600℃, 800℃, 1000℃, 1200℃, 1400℃ a 1800℃. Pomocí maloúhlového rozptylu rentgenového záření byla určena velikost nanočástic a jejich rozdělení, velikost mikropórů, specifický povrch a dimenze povrchového fraktálu. Další fyzikální parametry jako velikosti a rozdělení velikostí klastrů La a Lc turbostratické uhlíku, mřížové parametry a a c a střední kvadratické výchylky atomů ve směru grafenových vrstev a ve směru kolmém byly určeny z širokoúhlových rentgenografických...
|
guest ::
