Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 6 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Optical setup for torque detected electron spin resonance spectroscopy
Kern, Michal ; Vetushka, Aliaksei (oponent) ; Neugebauer, Petr (vedoucí práce)
This thesis has been devoted to the improvement of a Torque Detected Electron Spin Resonance (TDESR) spectrometer by replacing the current capacitive detection of cantilever bending with optical methods. The thesis covers the basics of Electron Spin Resonance (ESR) spectrometry with the focus on TDESR and the field of single molecule magnetism. Laser beam deflection and interferometric detection methods are explained. The design of the TDESR spectrometer and its performance is shown on successfully obtained high quality TDESR spectra of an Fe4 single molecule magnet single crystal. Obtained results prove the feasibility of implemented detection method and its superiority with respect to the previously used capacitive method in terms of quality, resolution and speed. To further improve the TDESR setup, we have designed and assembled a system which uses an interferometer for detection of cantilever bending.
Konstrukce nízkoteplotních ultravakuových rastrovacích sondových mikroskopů
Pavera, Michal ; Klapetek, Petr (oponent) ; Vetushka, Aliaksei (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá vývojem rastrovacích sondových mikroskopů. Jsou specifikovány mechanické požadavky na mikroskop pro měření metodou rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) a mikroskopie atomárních sil (AFM) v prostředí ultra vysokého vakua (UHV) a proměnných teplot. Jsou diskutována konstrukční řešení dvou {navržených} mikroskopů a je popsána jejich řídicí elektronika. Zvláštní kapitola je věnována popisu lineárních piezomanipulátorů a konstrukčnímu řešení navržených prototypů.
Mechanical and Electrical Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films
Vetushka, Aliaksei ; Fejfar, Antonín (vedoucí práce) ; Čech, Vladimír (oponent) ; Sládek, Petr (oponent)
Amorfní a nano- nebo mikro- krystalické tenké vrstvy křemíku jsou intenzivně studované materiály pro fotovoltaické aplikace. Jsou používány jako intrinsické vrstvy (absorbéry) v p-i-n solárních článcích. V porovnání se solárními články založenými na deskách řezaných z krystalického křemíku, tenkovrstvé články obsahují asi 100x méně křemíku a mohou být deponovány při výrazně nižších teplotách (typicky okolo 200 0 C). To umožňuje ušetřit energii nutnou pro výrobu a dovoluje použití různých levných (i ohebných) podložek. Nicméně, tyto vrstvy mají komplexní mikrostrukturu, která komplikuje měření a popis elektronického transportu fotogenerovaných nosičů náboje. Pochopení struktury a elektronických vlastností materiálů v měřítku nanometrů je přitom zásadní na cestě ke zlepšení účinnosti tenkovrstvých solárních článků. Jedním z hlavních cílů této práce je studium strukturních a mechanických vlast- ností smíšených tenkých vrstev křemíku s různými tloušťkami a strukturou. Klíčovým parametrem mikrokrystalického křemíku je krystalinita, tj. objemový podíl mikrokrys- talické fáze. Ten určuje interní strukturu vrstvy, která rozhoduje o mnoha dalších vlastnostech jako je transport...
Mechanical and Electrical Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films
Vetushka, Aliaksei ; Fejfar, Antonín (vedoucí práce) ; Čech, Vladimír (oponent) ; Sládek, Petr (oponent)
Amorfní a nano- nebo mikro- krystalické tenké vrstvy křemíku jsou intenzivně studované materiály pro fotovoltaické aplikace. Jsou používány jako intrinsické vrstvy (absorbéry) v p-i-n solárních článcích. V porovnání se solárními články založenými na deskách řezaných z krystalického křemíku, tenkovrstvé články obsahují asi 100x méně křemíku a mohou být deponovány při výrazně nižších teplotách (typicky okolo 200 0 C). To umožňuje ušetřit energii nutnou pro výrobu a dovoluje použití různých levných (i ohebných) podložek. Nicméně, tyto vrstvy mají komplexní mikrostrukturu, která komplikuje měření a popis elektronického transportu fotogenerovaných nosičů náboje. Pochopení struktury a elektronických vlastností materiálů v měřítku nanometrů je přitom zásadní na cestě ke zlepšení účinnosti tenkovrstvých solárních článků. Jedním z hlavních cílů této práce je studium strukturních a mechanických vlast- ností smíšených tenkých vrstev křemíku s různými tloušťkami a strukturou. Klíčovým parametrem mikrokrystalického křemíku je krystalinita, tj. objemový podíl mikrokrys- talické fáze. Ten určuje interní strukturu vrstvy, která rozhoduje o mnoha dalších vlastnostech jako je transport...
Konstrukce nízkoteplotních ultravakuových rastrovacích sondových mikroskopů
Pavera, Michal ; Klapetek, Petr (oponent) ; Vetushka, Aliaksei (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá vývojem rastrovacích sondových mikroskopů. Jsou specifikovány mechanické požadavky na mikroskop pro měření metodou rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) a mikroskopie atomárních sil (AFM) v prostředí ultra vysokého vakua (UHV) a proměnných teplot. Jsou diskutována konstrukční řešení dvou {navržených} mikroskopů a je popsána jejich řídicí elektronika. Zvláštní kapitola je věnována popisu lineárních piezomanipulátorů a konstrukčnímu řešení navržených prototypů.
Optical setup for torque detected electron spin resonance spectroscopy
Kern, Michal ; Vetushka, Aliaksei (oponent) ; Neugebauer, Petr (vedoucí práce)
This thesis has been devoted to the improvement of a Torque Detected Electron Spin Resonance (TDESR) spectrometer by replacing the current capacitive detection of cantilever bending with optical methods. The thesis covers the basics of Electron Spin Resonance (ESR) spectrometry with the focus on TDESR and the field of single molecule magnetism. Laser beam deflection and interferometric detection methods are explained. The design of the TDESR spectrometer and its performance is shown on successfully obtained high quality TDESR spectra of an Fe4 single molecule magnet single crystal. Obtained results prove the feasibility of implemented detection method and its superiority with respect to the previously used capacitive method in terms of quality, resolution and speed. To further improve the TDESR setup, we have designed and assembled a system which uses an interferometer for detection of cantilever bending.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.