|
|
Piezoelektrické nanovlákenné materiály pro nositelnou elektroniku
Frolíková, Štěpánka ; Škarvada, Pavel (oponent) ; Macků, Robert (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vlivem výrobních parametrů na morfologii PVDF nanovláken vyrobených elektrostatickým zvlákňováním. Nanovlákna jsou obecně velmi využívaný materiál, mohou mít i piezoelektrické vlastnosti, což jim přináší specifické spektrum využití, např. v biosenzorech. Výroba nanovláken byla realizována pomocí elektrostatického zvlákňování. Ke zkoumání morfologie a povrchových vlastností se využíval rastrovací elektronový mikroskop. Cílem práce je porovnat vlastností PVDF nanovláken vyrobených za různého nastavení výrobních parametrů.
|
|
|
Řízený zdroj optického záření
Pazderský, Tomáš ; Macků, Robert (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Cílem diplomové práce je navržení a realizace počítačem řízeného optického zdroje záření. V teoretické části jsou popsány fotometrické, radiometrické veličiny, použité součásti jako je LED dioda, mikrokontrolér a používané způsoby řízení jasu LED. Praktická část postupně popisuje vývoj zdroje záření od výběru jednotlivých LED až po celkovou konstrukci a programování zařízení. Na jednotlivých LED byly provedeny měření jejich vlastností. Byl navržen a následně zhotoven obvod s mikrokontrolérem. Zařízení bylo naprogramováno pro komunikaci a řízení z PC. Celé zařízení je vloženo do kovové konstrukční krabičky a odzkoušeno.
|
|
|
Ramanova spektroskopie pro výuku
Indra, Zdeněk ; Sedlák, Petr (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá principem Ramanova jevu a funkcí Ramanova spektrometru za účelem sestrojení nízkorozpočtové sestavy Ramanova spektrometru pro školní laboratorní výuku. V práci jsou uvedeny jednotlivé důležité části zařízení a jsou popsány jejich klíčové vlastnosti. Následně je diskutován výběr jednotlivých komponent a je proveden základní experiment ověřující princip tohoto spektrometru. Ve finální části je díky získaným poznatkům sestrojen a otestován nízkorozpočtový Ramanův spektrometr.
|
|
|
Nedestruktivní analýza solárních článků
Černý, Michal ; Škarvada, Pavel (oponent) ; Macků, Robert (vedoucí práce)
Práce stručně rozebírá současný stav fotovoltaických systémů a jejich současný vývoj. Budou ukázány typické vlastnosti v současné době nejprodukovanějších typů. Těžiště práce je v nedestruktivní analýze monokrystalických jednopřechodových solárních článků. Budou popsány dva základní přístupy diagnostiky a to pomoci měření VA charakteristik a měřením šumových charakteristik. U vybraných vzorků budou provedena experimentální měření a budou stanoveny základní parametry. V případě šumové analýzy bude značná pozornost věnována vytvoření technického vybavení pro automatizované měření spektrálních výkonových hustot. Toto vybavení bude následně použito pro měření vzorků, u kterých pozorujeme mikroplazmatický šum.
|
|
|
Lokální optické a elektrické charakteristiky optoelektronických součástek
Škarvada, Pavel ; Hrabovský, Miroslav (oponent) ; Lazar, Josef (oponent) ; Tománek, Pavel (vedoucí práce)
Konverze solární energie a miniaturizace polovodičových součástek a s tím spojená životnost, spolehlivost a účinnost zařízení jsou základní premisy této práce. Práce je zaměřena na studium a nedestruktivní diagnostiku optoelektronických součástek, především solárních článků. Ty jsou výhodné pro studium především proto, že mají přístupný pn přechod blízko povrchu a obsahují značné množství nehomogenit. Vzhledem k rozměrům nehomogenit bylo ještě donedávna obtížné zkoumat jejich lokální fyzikální (tj. elektrické a optické) charakteristiky, které by umožnily lépe pochopit jejich chování. Vybudování vlastního měřicí pracoviště, které splňuje specifické požadavky pro oblast měření lokálního optického vyzařování a lokálně indukovaného proudu, umožnilo dosáhnout lokalizaci a detekci nehomogenit s rozlišením přibližně 100 nm. Jádrem práce je charakterizace nedokonalostí s využitím nedestruktivních technik, a to nejen z makroskopického hlediska, ale především v mikroskopickém měřítku s využitím sondové mikroskopie. Nedílnou součást práce tedy tvoří studium problematiky charakterizačních technik pro optoelektronické součástky, studium mikroskopických technik, především sondových a problematika zpracování naměřených dat. Pro účely mikroskopické charakterizace je použit mikroskop se skenující sondou v blízkém optickém poli, který kromě morfologie povrchu umožňuje zkoumat také lokální optické, optoelektrické a elektrooptické vlastnosti struktur ve vysokém prostorovém rozlišení. Z makroskopického hlediska jsou v rámci práce zkoumány vzorky s využitím techniky lokálně indukovaného proudu, voltampérových charakteristik vzorků, emise ze závěrně polarizovaných vzorků ale i jejich teplotních závislostí. Společným využitím těchto technik je možné lokalizovat defekty a nehomogenity struktury, které byly následně podrobeny kompozitní analýze a dále zobrazeny s využitím elektronové mikroskopie. Mezi konkrétní výstupy práce patří specifikace možností využití nedestruktivních charakterizačních technik pro studium optoelektronických součástek a zvláště pak pro klasifikaci jejich defektů. Dále jsou formou metodiky popsány experimentální charakterizační techniky a postupy charakterizace defektů. Klíčovým výstupem je katalog objevených typů defektů, ve kterém jsou ukázány konkrétní defekty vzorků a jejich lokální vlastnosti v mikroskopickém měřítku společně s popisem jejich vlivu na celý vzorek.
|
|
|
Difrakce a interference světla pro výuku laboratorních cvičení
Dvořák, Tomáš ; Šicner, Jiří (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Účelem této bakalářské práce je navržení a sestrojení funkční laboratorní úlohy pro měření difrakce a interference světla, která bude vyučována v laboratořích fyzikálního praktika. Na základě zjištěných informací o optických jevech bylo vytvořeno fyzické uspořádání laboratorní úlohy. Následně byla zprovozněna CMOS kamera DCC3240M. Pro ovládání této kamery byl vytvořen obslužný program, pomocí kterého jsme schopni ovládat všechny dostupné funkce kamery, zachycovat a ukládat snímky a zobrazovat rozložení intenzity zachycených snímků. Nejdůležitější funkcí ovládacího softwaru je možnost měření vzdáleností mezi jednotlivými difrakčními lokálními extrémy.
|
|
|
Indikátor pro pipetování
Demjan, Michal ; Čmiel, Vratislav (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Práca „Indikátor pro pipetování“ sa zaoberá možnosťami indikovania postupu práce pri pracovaní s mikroskúmavkovými doskami s 96 a 48 mikroskúmavkami. Práca berie ohľad na finančnú nenáročnosť zhotoveného produktu, rovnako ako aj na univerzalitu pre použitie mikroskúmavkových dosiek, určených na rôzne účely a pracoviská, dodávanými rôznymi firmami. Práca popisuje návrh ako hardwaru, tak aj softwaru a krytu zariadenia. Zariadenie využíva 96 LED diód, ovládané mikrokontrolérom, je schopné bezdrôtovej komunikácie s nadradeným systémom.
|
|
|
Stanice technické kontroly
Škarvada, Pavel ; Kučera, Pavel (oponent) ; Hradil, Dušan (vedoucí práce)
Obsahem práce je projekt Stanice technické kontroly pro osobní a lehká užitková vozidla s autoservisem. Je navržena na stavební parcele nacházející se v Brně, městské části Komín. Budova je navržena jako nepodsklepená, jednopodlažní s plochou střechou. Součástí projektu je návrh zpevněných komunikací a parkovacích stání pro návštěvníky a zaměstnance. Budova není navržena jako nízkoenergetická.
|
|
|
Analýza lokálních vlastností povrchu solárních článků
Lipr, Tomáš ; Macků, Robert (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodou optické mikroskopie v blízkém poli a jejího využití při zkoumání lokálních optických vlastností povrchové struktury solárních článků. Popisuje nejčastější artefakty vznikající při tomto měření. Věnuje se problematice měření elektrické odezvy solárního článku na lokální osvětlení povrchu solárního článku. V práci je řešena problematika řádkové synchronizace voltmetru s mikroskopem NTEGRA při měření elektrické odezvy.
|
|
|
Systém vzdáleného monitorování zlomu
Jarůšek, Jakub ; Trčka, Tomáš (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Optické bezkontaktní měření vzdálenosti a posuvu se v praxi rozděluje do různých metod, které využívají jiný parametr optického (světelného) signálu. V práci jsou některé metody vysvětleny. Detailněji je popsaná metoda triangulace. Tato metoda je využita pro měření a monitorování posuvu geologických zlomů. Pro toto monitorování je navrhnuto nízkorozpočtové zařízení, které pomocí laserů a snímače určí posuv měřeného objektu v určitém časovém intervalu. Celý systém bude sloužit jako verifikace dat naměřených magnetorezistivními senzory.
|
host ::
RSS.