Sopoušek, Jan - Search Results - Digital Repository

guest :: login Digital Repository
		Search		Submit		Help		About

Home > Search Results: Sopoušek, Jan

Search:

Search Tips :: Advanced Search

Search collections:

Sort by:	Display results:	Output format:

	Parasitic aberrations of the hexapole corrector of spherical aberration - analysis and corrections Sopoušek, Jan ; Lencová, Bohumila (referee) ; Radlička, Tomáš (advisor) Jednou z možností korekce sférické vady v elektronové mikroskopii je hexapólový korektor. Ačkoliv samotný princip korekce je poměrně dobře v literatuře popsán, jen relativně málo je věnováno samotnému seřízení hexapólového korektoru, jež je stěžejní pro správnou funkčnost. Práce je věnována analytickému rozboru vad seřízení a jejich vlivu na rozlišení obrazu za použití metody eikonálu a aberačních integrálů. Je ukázáno, že nejdůležitější roli v parazitických aberací hrají výchylky a náklon hexapólů. V závěru je pak popsáno, jakým způsobem je třeba hexapólový korektor seřídit pro odstranění parazitických vad. Detailed record
	Analýza fluktuací tunelového proudu v STM Sopoušek, Jan ; Ošťádal, Ivan (advisor) ; Sobotík, Pavel (referee) The thesis deals with analysis of fluctuations of the tunnelling current in scanning tunnelling microscopy (STM). The dynamics of Sn atoms on the surface Si (111) 7x7 is studied by means of time records of the tunnelling current. The records provided characteristic times of Sn adatom staying in various areas of half unit cells of the surface reconstructions are analysed. The model types of the tunnelling current interference, which influence the measurement accuracy, are also studied. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org) Detailed record
	Parasitic aberrations of the hexapole corrector of spherical aberration - analysis and corrections Sopoušek, Jan ; Lencová, Bohumila (referee) ; Radlička, Tomáš (advisor) Jednou z možností korekce sférické vady v elektronové mikroskopii je hexapólový korektor. Ačkoliv samotný princip korekce je poměrně dobře v literatuře popsán, jen relativně málo je věnováno samotnému seřízení hexapólového korektoru, jež je stěžejní pro správnou funkčnost. Práce je věnována analytickému rozboru vad seřízení a jejich vlivu na rozlišení obrazu za použití metody eikonálu a aberačních integrálů. Je ukázáno, že nejdůležitější roli v parazitických aberací hrají výchylky a náklon hexapólů. V závěru je pak popsáno, jakým způsobem je třeba hexapólový korektor seřídit pro odstranění parazitických vad. Detailed record

See also: similar author names
2	Sopoušek, J.
2	Sopoušek, Jiří

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.

Digital Repository :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Maintained by

This site is also available in the following languages:
Česky English