|
Studium vlastností povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli
Neuman, Tomáš ; Kalousek, Radek (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá studiem vlastností povrchových plazmonových polaritonů (PPP) šířících se podél rozhraní dielektrikum - kov. Na strukturách připravených pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) byla experimentálně studována interference PPP pomocí rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Pozorovány byly interferenční obrazce způsobené PPP šířícími se od různě uspořádaných excitačních drážek. Zjištěné interferenční obrazce byly teoreticky diskutovány. Měřením v optickém blízkém poli byla dále potvrzena citlivost excitace PPP na drážkách na polarizaci budicího světla.
|
|
Příprava a charakterizace SNOM sond
Robešová, Magdaléna ; Rovenská, Katarína (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).
|
|
Interakce SNOM hrotu s blízkým elektromagnetickým polem vzniklým interferencí povrchových plazmonových polaritonů
Jakub, Zdeněk ; Břínek, Lukáš (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je výroba sond pro rastrovací optický mikroskop v blízkém poli (SNOM) a test jejich funkčnosti na interferenčních strukturách povrchových plazmonových polaritonů (PPP). Teoretická část se zabývá základními vlastnostmi PPP a principy jejich excitace a detekce. V experimentální části jsou vysvětleny metody chemického leptání hrotů, iontového naprašování tenkých vrstev (IBS) s možností depozice s asistenčním iontovým svazkem (IBAD) a vytváření apertury pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB). Dále je proveden test funkčnosti vyrobených hrotů a naměřený signál blízkého pole je porovnán se signálem změřeným pomocí komerčně dostupných sond.
|
|
Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Krpenský, Jan ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
|
| |
|
Příprava a charakterizace SNOM sond
Robešová, Magdaléna ; Rovenská, Katarína (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).
|
|
Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Krpenský, Jan ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
|
|
Interakce SNOM hrotu s blízkým elektromagnetickým polem vzniklým interferencí povrchových plazmonových polaritonů
Jakub, Zdeněk ; Břínek, Lukáš (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Cílem této bakalářské práce je výroba sond pro rastrovací optický mikroskop v blízkém poli (SNOM) a test jejich funkčnosti na interferenčních strukturách povrchových plazmonových polaritonů (PPP). Teoretická část se zabývá základními vlastnostmi PPP a principy jejich excitace a detekce. V experimentální části jsou vysvětleny metody chemického leptání hrotů, iontového naprašování tenkých vrstev (IBS) s možností depozice s asistenčním iontovým svazkem (IBAD) a vytváření apertury pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB). Dále je proveden test funkčnosti vyrobených hrotů a naměřený signál blízkého pole je porovnán se signálem změřeným pomocí komerčně dostupných sond.
|
|
Studium vlastností povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli
Neuman, Tomáš ; Kalousek, Radek (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá studiem vlastností povrchových plazmonových polaritonů (PPP) šířících se podél rozhraní dielektrikum - kov. Na strukturách připravených pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) byla experimentálně studována interference PPP pomocí rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Pozorovány byly interferenční obrazce způsobené PPP šířícími se od různě uspořádaných excitačních drážek. Zjištěné interferenční obrazce byly teoreticky diskutovány. Měřením v optickém blízkém poli byla dále potvrzena citlivost excitace PPP na drážkách na polarizaci budicího světla.
|