Original title: Programovatelný zdroj napětí pro podporu automatizovaného testování embedded procesorů a flash pamětí
Translated title: Programmable Voltage Source Allowing for Automated Tests of Embedded Processors and Flash Memories.
Authors: Bránecký, Peter ; Růžička, Richard (referee) ; Šimek, Václav (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2026
Language: eng
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstract: [eng] [cze]
Tato práce se zabývá programovatelnou injektáží napěťových poruch ve vestavěných systémech a jejím začleněním do automatizovaných testovacích workflow. Cílem bylo vytvořit cenově dostupné řešení, které umožňuje opakovaně generovat poruchy na napájecí větvi DUT, řídit je z hostitelského softwaru a zaznamenávat výsledky experimentů. Jako hardwarová platforma byl zvolen PicoGlitcher s modulem Pulse Shaping Extension a nad ním byla implementována řídicí knihovna v jazyce Python využívající JSON scénáře pro popis, validaci a vykonávání experimentů. Měření ukázala, že crowbar poruchy měly na straně DUT nejsilnější odezvu, přičemž napájecí rail poklesl z 2,59 V při šířce pulzu 100 ns na 0,47 V při šířce 5 µs, zatímco tvarované průběhy byly výrazně filtrovány napájecí sítí na straně DUT. This thesis deals with programmable voltage fault injection in embedded systems and its use in automated test workflows. The goal was to create a cost-effective solution that can repeatedly generate disturbances on the DUT supply rail, control them from host-side software, and record experiment results. The PicoGlitcher with the Pulse Shaping Extension was selected as the hardware platform, and a Python control library using JSON scenarios for experiment description, validation, and execution was implemented on top of it. Measurements showed that crowbar glitches produced the strongest DUT-side effect, with the rail dropping from 2.59 V at 100 ns pulse width to 0.47 V at 5 µs, while shaped waveforms were strongly filtered by the DUT-side power network.
Keywords: automatizace hardwarového testování; ESP-IDF; flash paměti; injektáž napěťových poruch; PicoGlitcher; programovatelný zdroj napětí; testování vestavěných systémů; tvarování průběhů; embedded systems testing; ESP-IDF; flash memories; hardware test automation; PicoGlitcher; programmable voltage source; voltage fault injection; waveform shaping

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/260535

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-777404


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses