Original title: Studium optických vlastností tenkých perovskitových vrstev
Translated title: Study of optical properties of thin film perovskite layers
Authors: Jursová, Kateřina ; Pospíšil, Jan (referee) ; Menčík, Přemysl (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2025
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstract: [cze] [eng]
Bakalářská práce se zabývá studiem optických vlastností perovskitových materiálů. První kapitola pojednává o původu, klasifikaci, struktuře a formách perovskitů. Zmíněna je i aplikační oblast s důrazem na zobrazovací zařízení (displeje). Další kapitoly se soustředí na možné metody příprav perovskitů jako roztoků, nanočástic, monokrystalů i tenkých vrstev. Teoretická část pokračuje kapitolou metody charakterizace, která se soustředí i na širší vysvětlení principů klíčových pro charakterizaci. Teoretická část je zakončena náhledem na aktuální stav poznání v odvětví charakterizace perovskitových tenkých vrstev pomocí spektroskopické elipsometrie. V experimentální části je popsána příprava tenkých vrstev rotačním nanášením, měření elipsometrických spekter a jejich vyhodnocení pomocí optických modelů. Použitím modelu CPPB byly získány příznivé shody s experimentálními spektry, přičemž byly určeny parametry jednotlivých oscilátorů, které spektrum charakterizují. Odečtena byla z grafů spekter vysokofrekvenční permitivita a šířka zakázaného pásu, která vykazovala podobnost s tabelovanými hodnotami. The bachelor's thesis deals with the study of optical properties of perovskite materials. The first chapter discusses the origin, classification, structure and forms of perovskites. The application area is also mentioned with an emphasis on display devices. Other chapters focus on possible methods of preparing perovskites as solutions, nanoparticles, single crystals and thin films. The theoretical part continues with a chapter on characterization methods, which also focuses on a broader explanation of the principles key to characterization. The theoretical part concludes with an overview of the current state of knowledge in the field of characterization of perovskite thin films using spectroscopic ellipsometry. The experimental part describes the preparation of thin films by spin coating, measurement of ellipsometric spectra and their evaluation using optical models. By using the CPPB model, favorable matches with experimental spectra were obtained, and the parameters of individual oscillators that characterize the spectrum were determined. The high-frequency permittivity and band gap were read from the spectra graphs, which showed similarity to the tabulated values.
Keywords: optical properties; perovskites; spectroscopic ellipsometry; thin layers; optické vlastnosti; perovskity; spektroskopická elipsometrie; tenké vrstvy

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/252897

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-700615


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses