Název: Korelativní zobrazování magnetického uspořádání v antiferomagnetech
Překlad názvu: Correlative imaging of magnetic order in antiferromagnets
Autoři: Štindl, Jáchym ; Kuběna, Ivo (oponent) ; Hajduček, Jan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2024
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Zobrazování antiferomagnetických (AF) struktur je limitováno tím, že tyto materiály mají nulovou magnetizaci. Vhodným přístupem k zobrazování AF materiálů je korelace výstupu z několika zobrazovacích technik zároveň. V této práci byly pozorovány tenké vrstvy oxidu nikelnatého (NiO), u kterého lze při zobrazování využít silné vazby mezi AF uspořádáním a strukturou. Tato vazba se projevuje distorzí mřížky NiO, která přispívá k magnetooptické (MO) odezvě. Snímky z polarizačního (POL) mikroskopu byly v rámci této práce využity jako reference pro korelaci s výstupy technik využívajících rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronový mikroskop. Při zobrazování NiO pomocí SEMu bylo využito distorze k získání kanálovacího kontrastu (technika ECCI). Z korelace signálů z POL mikroskopu a SEMu vyplynulo navýšení rozlišení AF struktur při použití ECCI techniky v SEMu. Během zobrazování NiO v TEMu byl zvolen přístup založený na anizotropii neelastického rozptylu elektronů po dopadu na vzorek. Tato anizotropie indikuje směr Néelova vektoru v zobrazované oblasti. Imaging of antiferromagnetic (AF) structures is limited by the fact that these materials have zero magnetization. A suitable approach to imaging AF materials is to correlate the output of several imaging techniques simultaneously. In this work, thin films of nickel oxide (NiO) were observed, for which strong coupling between AF arrangement and structure can be used in imaging. This coupling causes distortion of the NiO lattice, which contributes to the magneto-optical (MO) response. The polarizing (POL) microscope images were used as a reference in this work to correlate with the output of techniques using scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM). In the SEM imaging of NiO, distortion was used to obtain channeling contrast (ECCI technique). Correlation of the signals from the POL microscope and SEM showed an increase in the resolution of the AF structures when using the ECCI technique in SEM. During the imaging of NiO in TEM, an approach based on the anisotropy of inelastic electron scattering upon impact with the sample was chosen. This anisotropy indicates the direction of the Néel vector in the imaged region.
Klíčová slova: analogie Voigtova jevu při odrazu; antiferomagnetické doménové struktury; kontrastní zobrazování elektronovým kanálováním; korelativní zobrazování; NiO; spektroskopie ztrát energie elektronů; antiferromagnetic domain structures; correlative imaging; electron channelling contrast imaging; electron energy loss spectroscopy; NiO; reflection analogy to the Voigt effect

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/248268

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-619587


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce