Original title:
Standardní nejistoty měření
Translated title:
Standard Uncertainty in Measurement
Authors:
Trojan, Martin ; Zavřel, Jiří (referee) ; Havlíková, Marie (advisor) Document type: Bachelor's theses
Year:
2008
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Tato bakalářská práce pojednává o nejistotách měření. Stanovuje postupy pro vyhodnocování standardních nejistot typu A i B. Také stanovuje postupy pro vyjádření kombinované a rozšířené nejistoty, postupy pro vyjádření a vyhodnocení vlivu zdrojů nejistot. V závěru práce jsou měření zhodnocena a porovnána jejich kompatibilita vzhledem k referenčnímu měřidlu a sestaveny jejich kalibrační diagramy. Práce je dále zaměřena na praktické měření. Zabývá se měřením kapacity a odporu, stanovuje postupy pro tato měření. Všechny výpočty byly prováděny se skutečnými hodnotami, získanými skutečnými měřeními v laboratoři E607 UAMT FEKT VUT Brno.
This bacelor´s thesis is about uncertainty of measurement. Methods for evalution of standard uncernatainty types A and B are determined. Also methods for evalution of expression of combined and expanded uncertainty are determined. Next methods for expresion and influence of source of these uncertainties. In the end are all the mesurements reviewed and its kompatibility is compared with referential measure. Also all calibration diagram are compiled. This thesis is based on practical measurement. I tis about measurement of capacitance and resistance, methods for evalution of these measurement are determined. All calculation were provided with real values. All values originate from real measurement in school´s lab E607 DCI FEEC BUT.. All results were compared in the end.
Keywords:
Uncertainty Measurement Resistence Capacitance Kompatibility Calibration diagram; Nejistota Měření Odpor Kapacita Kompatibilita Kalibrační graf
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/2454