Original title: Charakteristika snímků z rastrovacího transmisního elektronového mikroskopu tenkých biologických řezů
Translated title: Characterization of scanning transmission electron microscopy images of thin biological sections
Authors: Novotná, Veronika ; Nebesářová,, Jana (referee) ; Krzyžánek, Vladislav (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2014
Language: eng
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [eng] [cze]
Diplomová práce popisuje fyzikální principy mikroskopů TEM, SEM a STEM spolu s jejich vhodností pro pozorování vzorků citlivých na elektrony, jako jsou zalévací média či biologické vzorky. Dále je popsána příprava vzorků pro STEM (TEM) a popis interakcí, ke kterým dochází mezi primárním elektronovým svazkem a vzorkem. Součástí práce je také pojednání o zpracování mikroskopických obrazů s podkapitolou o metodách kvantitativního porovnání obrazů ze STEM. Praktická část práce je zaměřena zejména na měření úbytku hmoty zalévacích médií (Epon, Spurr, LR White) způsobený primárním svazkem elektronů v nízkonapěťovém STEM. Ultratenké řezy několika tlouštěk byly zkoumány při různých nastaveních mikroskopu (urychlovací napětí, celková dávka, proud svazku, čištění povrchu vzorku a komory mikroskopu) a zobrazovacích módech (světlé a tmavé pole). Dále jsou zkoumány také biologické vzorky Krásnoočka štíhlého (Euglena gracilis) zalitého v pryskyřicích Epon a Spurr. Nasbírané snímky, vytvořené algoritmy a získané výsledky jsou diskutovány a zhodnoceny. This master´s thesis describes physical principles of the TEM, the SEM and the STEM and their suitability for observation of electron-sensitive samples (embedding media, biological specimens). The interaction between the incident electron beam and the sample is also discussed, as well as the sample preparation for the STEM (TEM). Furthermore, a description of microscopic image processing is included with a section about quantitative comparison of the STEM images. The thesis is focused on the mass loss of pure embedding media (Epon, Spurr, LR White) caused by the electron beam in the low voltage STEM. The samples of different thicknesses were investigated using different microscope settings (acceleration voltage, total dose, probe current, cleaning of the sample surface and specimen chamber) and the STEM imaging modes (bright-field, dark-field). Furthermore, biological samples of Euglena gracilis embedded in Epon and Spurr are examined. Collected images, created algorithms and obtained results are widely discussed.
Keywords: Epon; Euglena gracilis; LR White; příprava vzorků; SEM; SNR; Spurr; STEM; TEM; zalévací média; zpracování obrazu; úbytek hmoty; Embedding media; Epon; Euglena gracilis; Image processing; LR White; Mass loss; Sample preparation; SEM; SNR; Spurr; STEM; TEM

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/31577

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-220844


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses