National Repository of Grey Literature 51 records found  beginprevious29 - 38nextend  jump to record: Search took 0.01 seconds. 
Application of Interferometry in VT UHV SPM
Šulc, Dalibor ; Klapetek, Petr (referee) ; Fejfar, Antonín (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
The thesis is aimed at the development of Scanning Probe Microscopes (SPM). It describes design and development of modular controll electronics to be applied eectively on more microscopes SPM. Control electronics consist of stabilized power source, high–voltage amplier and probe signal amplier. The open–source project GXSM has been introduced. It contains a logic control unit which controls scanning, acquiring data and feedback control. GXSM provides a graphical user interface based on linux operation system. Second part of the thesis is aimed at design and development of interferometric deection sensing system for SPM cantilevers and applications at SPM in general. Designed interferometer has been assembled and tested. It can clearly distinguish a signal of amplitude 2 nm. At the end of the thesis the design of interferometric system implementation is presented.
Development of Instrumental Equipment for the Characterization of Nanostructures
Nováček, Zdeněk ; Ošťádal, Ivan (referee) ; Fejfar, Antonín (referee) ; Šikola, Tomáš (advisor)
The thesis focuses on the development of instruments used for surfaces and nanostructures characterization. Individual techniques of scanning probe microscopy provide different information of the sample surface. The resolution of scanning probe microscopy, providing 3D topography information, reaches subnanometer values or even an atomic level. Therefore, the scanning probe microscopy is one of the most employed method in the field of nanotechnology. The thesis describes the details of development of two scanning probe microscopes intended for measurement under ultra high vacuum conditions. As for the first one, many changes were proposed leading to its better variability, extended functionality and increased user comfort. The second microscope is being design with the aim of its combination with other analytic techniques, especially with scanning electron microscopy. An integral part of scanning probe microscopes is a precise positioning system for navigation of the probe to the selected site. Therefore, the thesis also deals with the development of linear piezoceramic actuators used not only in the ultra high vacuum compatible microscopes but also as a general purpose nanomanipulators.
Microdefects in Czochralski Silicon
Válek, Lukáš ; Fejfar, Antonín (referee) ; Mikulík, Petr (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
Disertační práce se zabývá studiem defektů v monokrystalech Czochralskiho křemíku legovaných bórem. Práce studuje vznik kruhových obrazců vrstevných chyb pozorovaných na povrchu křemíkových desek po oxidaci. Hlavním cílem práce je objasnit mechanismy vzniku pozorovaného rozložení vrstevných chyb na studovaných deskách a vyvinout metody pro řízení tohoto jevu. Na základě experimentálních analýz a rozborů obecných mechanismů vzniku defektů jsou objasňovány vazby mezi vznikem defektů různého typu. Tyto jsou pak diskutovány v souvislosti s parametry krystalu i procesu jeho růstu. Takto sestavený model je využit pro vývoj procesu růstu krystalů, kterým je potlačen nadměrný vznik defektů ve studovaných deskách. Za účelem studia defektů jsou zaváděny a vyvíjeny nové analytické metody. Disertační práce byla vytvořena za podpory ON Semiconductor Czech Republic, Rožnov pod Radhoštěm.
Thin Films of Polycrystalline Silicon
Lysáček, David ; Schmidt, Eduard (referee) ; Fejfar, Antonín (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
The doctoral thesis deals with the structure and properties of the polycrystalline silicon layers deposited on the silicon wafers backside. The wafers are further used for production of semiconductor devices. This work is focused on detailed description of the layers structure and study of the gettering properties and residual stress of the layers. The main goal of this work is to develop two novel technologies. The first one leads to improvement of the temperature stability of the gettering properties of the layers, and the second one solves the deposition of the layers with pre-determined residual stress. This doctoral thesis was created with the support of the company ON Semiconductor Czech Republic, Rožnov pod Radhoštěm.
Study of Thin-Film Surfaces
Trivedi, Rutul Rajendra ; Fejfar, Antonín (referee) ; Klapetek, Petr (referee) ; Šikola, Tomáš (referee) ; Čech, Vladimír (advisor)
Disertační práce se zabývá studiem povrchových vlastností jedno a vícevrstvých filmů deponovaných z vinyltriethoxysilanových a tetravinylsilanových monomerů. Zabývá se také charakterizací adheze jednovrstvých filmů z tetravinylsilanu. Plazmaticky polymerizované tenké vrstvy byly připraveny na leštěných křemíkových substrátech pomocí plazmové depozice z plynné fáze za ustálených podmínek. Povrchové vlastnosti vrstev byly charakterizovány pomocí různých metod rastrovací sondové mikroskopie a nanoindentačních technik jako je konvenční a cyklická nanoindentace. Vrypový test byl použit pro charakterizaci vlastností adheze vrstev. Jednovrstvé filmy připravené za různých depozičních podmínek byly charakterizovány s ohledem na povrchové morfologie a mechanické vlastností (modul pružnosti, tvrdost). Výsledky morfologie povrchu, analýzy zrn, nanoindentace, analýzy konečných prvků a modulů mapování pomohly rozlišit hybridní charakter filmů, které byly deponovány při vyšších výkonech RF-výboje. Nový přístup byl použit v povrchové charakterizaci vícevrstvého filmu pomocí rastrovací sondové mikroskopie a nanoindentace. Adhezívní chování plazmaticky polymerizovaných vrstev různých mechanických vlastností a tloušťek bylo analyzováno pomocí normálních a laterálních síl, koeficientu tření, a snímků vrypů získaných pomocí mikroskopie atomárních sil.
Application of plasmonics in organic photovoltaics
Láska, Martin ; Fejfar, Antonín (referee) ; Šikola, Tomáš (advisor)
Tato diplomová práce se zabývá studiem plasmonicky navýšené absorpce vedoucí ke zlepšení účinnosti organických solárních článků. K navýšení absorpce světla ve fotoaktivní vrstvě jsou použity koloidní nanočástice stříbra. Rozptyl světla z nanočástic střibra do fotoaktivní vrstvy představuje jedno z možných řešení, jak navýšit celkovou účinnost fotovoltaických zařízení. Simulace elektromagnetických jevů jsou pro statické podmínky prováděny v softwaru Lumerical (Lumerical Solutions, Inc.). Je zkoumána absorpce ve fotoaktivní vrstvě v závislosti na konfiguraci stříbrných nanočástic. Simulace potvrzují, že ve fotoaktivní vrstvě, která je modifikovaná nanočásticemi stříbra, dochází k navýšení absorpce. Abychom potvrdili výsledky simulací, bylo vyrobeno několik stříbrem modifikovaných vzorků. Vzorky byly pro tento druh experimentu připravené z poly(3-hexyltiofenu):[6,6]-fenyl-C61-butyric-acid-metyl esteru. U některých, nanočásticemi stříbra modifikovaných, vzorků dochází k navýšení tvorby excitonů, v důsledku čehož je pozorován nárůst fotoproudu. V této práci je zahrnut teoretický i experimentální přístup k dané problematice.
Study of Properties of Metallic Thin Films and Nanostructures Using Scanning Probe Microscopy
Doupal, Antonín ; Fejfar, Antonín (referee) ; Kalousek, Radek (advisor)
This diploma thesis is focused on investigation of metallic thin films and nanostructures using scanning probe microscopy. Magnetic properties of these objects are studied by magnetic force microscopy, which is modification of scanning probe microscopy. In the theoretical part basic principles of scanning probe microscopy and magnetic force microscopy are summarized, and also principle of creation of magnetic domains and some special properties of ferromagnetic and antiferromagnetic materials. Further, two techniques of fabricating nanostructures are described. Experimental part is focused on imaging and simulating of magnetic domains. Further, exchange bias is revealed. This phenomenon is present in systems composed from ferromagnetic and antiferromagnetic materials. One part of this diploma thesis is also focused on discussion of problems with magnetic force microscopy.
Development and application of methods used in devices for study of local properties of nanostructures
Sháněl, Ondřej ; Fejfar, Antonín (referee) ; Šikola, Tomáš (advisor)
Vývoj UHV kompatibilního kombinovaného systému AFM/SEM. Modifikace předchozího AFM mikroskopu pro podmínky spojené s tímto systémem. Výzkum transportu elektrického náboje v organických solárních článcích pomocí měření jejich volt-ampérových charakteristik a povrchového potenciálu. Příprava zlatých hrotů pro STM netoxickou cestou.
Nanopositioning with detection of a standing wave
Holá, M. ; Hrabina, J. ; Číp, O. ; Fejfar, Antonín ; Stuchlík, Jiří ; Kočka, Jan ; Oulehla, J. ; Lazar, J.
A measuring technique is intended for displacement and position sensing over a limited range with detection of standing-wave pattern inside of a passive Fabry-Perot cavity. In this concept we consider locking of the laser optical frequency and the length of the Fabry-Perot cavity in resonance. Fixing the length of the cavity to e.g. a highly stable mechanical reference allows stabilizing wavelength of the laser in air and thus to eliminate especially the faster fluctuations of refractive index of air due to air flow and inhomogeneity. Detection of the interference maxima and minima within the Fabry-Perot cavity along the beam axis has been tested and proven with a low loss transparent photodetector with very low reflectivity. The transparent photodetector is based on a thin polycrystalline silicon layer. Reduction of losses was achieved thanks to a design as an optimized set of interference layers acting as an antireflection coating. The principle is demonstrated on an experimental setup.
The measurement of electrical properties of silicon nanostructures with use of atomic force microscopy
Hývl, M. ; Fejfar, Antonín ; Vetushka, Aliaksi
Atomic force microscopy (AFM) can be used to measure local surface potential or local conductivity. These properties are very useful to characterize photovoltaic silicon nanostructures, such as polycrystalline silicon or silicon nanorods. In this article, we demonstrate these methods and show the results of our measurements.

National Repository of Grey Literature : 51 records found   beginprevious29 - 38nextend  jump to record:
See also: similar author names
2 Fejfar, Aleš
Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.