Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Stabilita optického monitoru při depozici 42-vrstvého interferenčního „bandpass“ filtru 520-590 nm
Žídek, Karel
V této zprávě popisujeme stabilitu depozice komplikovaných soustav tenkých vrstev, které byly navrženy jako interferenční filtr s pásmovou propustností. Jde o 42 vrstev TiO2 a SiO2, které jsou monitorovány jednak tzv. krystalovým a optickým monitorem tloušťky. Diskutujeme případ, kdy je návrh IF průběžně upravován podle reálné tloušťky deponovaných vrstev.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.