Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
High-temperature X-ray Diffractometry of Thin Layers
Valeš, Václav ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Jergel, Matej (oponent) ; Nižňanský, Daniel (oponent)
Tato práce je zaměřena na studium krystalografické struktury a jejích změn během termálního působení několika systémů skládajících se z nanočástic oxidů kovů. Hlavní metodou použitou v celé práci je rentgenová prášková difrakce, rozšířená o maloúhlý rozptyl rentgenového záření v případech, kdy nanočástice tvoří uspořádanou strukturu a o rentgenovou absorpční spektroskopii v případech, kdy je zapotřebí dodatečná informace o lokální krystalografické struktuře. U všech studovaných systémů byly podle krystalografických dat optimalizovány podmínky jejich přípravy pro další použití.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.