Hlavní stránka > Výsledky hledání: Cichoň, Stanislav
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Determination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen Evolution Reaction on the Surface Structure
 Novák, M. ; Kocábová, Jana ; Kolivoška, Viliam ; Pospíšil, Lubomír ; Macák, J. ; Cichoň, Stanislav ; Cháb, Vladimír ; Hromadová, Magdaléna
Atomic force microscopy (AFM) was used to characterize surface morphology of pristine zirconium, Si modified and FeSi modified zirconium electrodes prior and after hydrogen evolution at potentials negative of the open circuit potential value. Two main characteristic parameters were obtained from the ex situ AFM height images, namely, the roughness factor and fractal dimension of the studied surface. The effect of hydrogen evolution reaction on the electrode surface morphology was discussed. Fractal dimension values were used successfully to explain the non ideality of the interfacial capacitance.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English