Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 103 záznamů.  začátekpředchozí86 - 95další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Optimalizace logistických činností při expedici v elektrotechnické výrobě
Reboková, Lenka ; Jirák, Josef (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Logistika, neboli proces plánování, realizace a řízení efektivního, výkonného toku a skladování zboží, služeb a souvisejících informací z místa vzniku do místa jejich spotřeby, jehož cílem je uspokojit požadavky zákazníků, se stala důležitou a nedílnou součástí každého podniku. Nezbytnou složkou procesu plánování je analýza současného stavu podniku, která hledá slabá místa stávajícího stavu, a na základě které lze fungování podniku začít zefektivňovat. Tato diplomová práce analyzuje současný stav expedičního úseku firmy ModusLink Czech Republic s.r.o. – detailně analyzuje pracovní činnosti na úseku prováděné a s využitím rozborově chronometrážní metody vyhodnocuje teoretickou a reálně dosažitelnou kapacitu sledovaného úseku. Reálně dosažitelná kapacita úseku je pak konfrontována se skutečnou kapacitou úseku dosaženou v průběhu sledovaných měsíců, přičemž na základě výsledků konfrontace jsou v práci uvedeny závěry a možná doporučení na případná zlepšení.
Optimalizace vedení logistiky skladového hospodářství ve velké firmě
Přichystal, Tomáš ; Zatloukal, Miroslav (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena do oblasti logistiky a monitorování zásob, které jsou neoddělitelnou součástí každé podnikatelské činnosti. Zabývá se zefektivněním evidence skladových jednotek ve výrobní firmě, která má velký počet skladů, za použití elektronického monitorování. Monitorování využívá moderních technologií, které se rychle rozvíjí a uplatňují ve všech odvětvích trhu.
Nastavení vlhkosti v ESEM
Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Špinka, Jiří
Jsou popsány možnosti nastavení a měření vlhkosti ve vzorkové komoře environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Jsou řešeny problémy předvakuového cyklu a plnícího cyklu vodní parou v komoře vzorku. Tyto cykly slouží k získání vhodného prostředí v blízkosti vzorku a jsou využity k pozorování bateriových hmot v průběhu jejich používání.
Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber
Jirák, Josef ; Autrata, Rudolf ; Špinka, Jiří
The advantages of the scanning electron microscopy working at higher pressures in the specimen chamber are connected with the possibility of observation of specimens structures, which are difficultly observable without previous preparation for microscopes working with pressures in the specimen chamber under 10.sup.-2./sup. Pa. The pressure in the specimen chamber up to approx. 2000 Pa brings the possibility of observation of specimens, which release gases, specimens containing liquid phase, including wet biological preparations, reactions on the phase interfaces, etc. At higher pressures in the specimen chamber it is also not necessary - due to neutralisation of the surface negative charge by gas ions - to coat electrically non-conductive specimens by a conductive layer.
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM
Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Špinka, Jiří
The scattering of primary electrons to so-called skirt, appearing in the range of pressures used in regimes of LV SEM (low vacuum) as well as in ESEM, has no substantial influence on the spatial resolution for commonly used types of imaging in the scanning electron microscope. It demonstrates itself just as a higher share of the noise signal. What is more, it brings known substantial advantages, as that no preparation of modification of non-conductive samples is needed and observation of liquid phase containing specimens is made possible.
Combined detector for BSE, SE and BSE+SE detection in a low voltage SEM
Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Romanovský, Vladimír ; Špinka, Jiří
Specimen observation at a low accelerating voltage of the electron beam (around 1kV) is a new and attractive technique of scanning electron microscopy. While detection to the signal of secondary electrons (SE) with the help of the scintillation-photomultiplier system described by Everhart-Thornley does not depend on the primary beam energy, the detection of backscattered electrons (BSE), having their energy only a bit lower than energy of the beam, is limited by a low sensitivity of semiconductor or channel plate detectors to channel plate detectors to electrons of energy below 2 keV.
Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures
Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Špinka, Jiří
The contribution is oriented to the area of scanning electron microscopy operated in the specimen chamber at higher pressures reaching hundreds to thousands of Pa. It deals with questions of signal detection and with the study of the effect of parameters of the incident primary electron beam on signal detection.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 103 záznamů.   začátekpředchozí86 - 95další  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.