Hlavní stránka > Výsledky hledání: Stangl, Julian
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Study of the structure of ferromagnetic semiconductors by x-ray scattering methods
 Horák, Lukáš ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Mikulík, Petr (oponent) ; Stangl, Julian (oponent)
Studovali jsme epitaxní vrstvy arsenidu gallia a manganu různými metodami RTG rozptylu. Protože polohy Mn dopantu v hostitelské mřížce arsenidu gallia jsou zcela zásadní pro magnetické vlastnosti tohoto materiálu, zaměřili jsme se hlavně na vývoj laboratorní difrakční metody schopné identifikovat mangan v konkrétních krystalografických polohách. Z naměřené difraktované intenzity rozložené podél useklic je možné dovodit hustotu Mn intersticiálů ve dvou neekvivalentních krystalografických polohách. Žíháním je možno snižit hustotu Mn intersticiálů. Demonstrovali jsme naši metodu na epitaxní vrstvě, která prošla několikerým žíháním. Po každém z nich byl určen hloubkový profil hustoty intersticiálů. Proces žíhání byl simulován řešením drift-difuzních rovnic. Z porovnání s experimentálně určenými koncentracemi intersticiálů jsme odhadli difusivitu Mn intersticiálů v mřížce arsendiu gallia. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
2 ŠTANGL, Jiří
1 ŠTANGL, Josef
3 Štangl, Jan
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English