Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 17 záznamů.  1 - 10další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Návrh podnikového finančního plánu
Nuzíková, Jana ; Procházková, Olga (oponent) ; Karas, Michal (vedoucí práce)
Diplomová práce se zaměřuje na návrh podnikového finančního plánu a je rozdělena do tří částí. První část popisuje základní teoretická východiska týkající se tématu diplomové práce sloužící k vysvětlení základních pojmů této problematiky. V úvodu další části je nejprve představena vybraná společnost, následuje provedení strategické a finanční analýzy, a na to navazující SWOT analýza. Poslední část se věnuje již samotnému návrhu finančního plánu pro následující čtyři roky, který je sestaven v optimistické a pesimistické variantě a je zakončen zhodnocením obou variant.
Vývoj kresby u dětí na 1. stupni ZŠ
PROCHÁZKOVÁ, Olga
Diplomová práce hlouběji analyzuje dětskou kresbu lidské postavy a sleduje její vývoj v průběhu celého prvního a na počátku druhého ročníku 1. stupně ZŠ. Teoretická část podrobněji charakterizuje vývojovou etapu mladšího školního věku po stránce motorického, percepčního, kognitivního, emočního a sociálního vývoje. Detailněji popisuje problematiku kresebného projevu včetně vývojových stadií výtvarného zobrazování. Praktická část rozebírá dětskou kresbu lidské postavy a sleduje proměny některých jejích znaků. Cílem práce bylo posouzení vývojového posunu ve výtvarném projevu dětí na 1. stupni ZŠ v časovém rozpětí jednoho kalendářního roku.
Microscopy of nanoparticles and films with nanoparticles
Kacerovský, Pavel ; Žďánský, Karel ; Procházková, Olga ; Vaniš, Jan ; Grym, Jan ; Vasiliev, A. ; Pašajev, E. M.
To study the electrophoreticaly deposited nanolayers of reverse micelles with Pd nano-particles on n-type InP substrates a wide range of current microscopic methods has been used. What concerns analytical methods the X-ray diffraction and mass spectrometry SIMS were used. The most relevant results about Pd nanoparticles in the layer were obtained by using HRTEM microscopy and SIMS spectrometry. In nanolayers crystallographic arrangement of Pd nanoparticles has not been found.
LPE Growth of III-V Semiconductors from rare-earth Treated Melts
Grym, Jan ; Procházková, Olga ; Zavadil, Jiří ; Žďánský, Karel
We focus on the characterization of InP and InGaAsP layers prepared by liquid phase epitaxy with rare-earth admixtures. We applied photoluminescence spectroscopy (PL), capacitance-voltage measurements, and secondary ion mass spectroscopy in order to explain: (i) the gettering effect and conductivity crossover of InP layers for Pr treated samples, (ii) narrowing of the PL and elecroluminescent spectra of the active InGaAsP region of a double-heterostructure LED.
Růst InP metodou LPE s přídavkem prvků vzácných zemin do taveniny
Grym, Jan ; Procházková, Olga ; Zavadil, Jiří ; Žďánský, Karel
Je známo, že přidáním prvků vzácných zemin do růstové taveniny lze získat LPE vrstvy sloučenin AIIIBV vysoké čistoty. Každý z těchto prvků však vykazuje jedinečné chování. Nízké přídavky Tb, Dy, Tm a Pr vedou ke getraci mělkých donorů a růstu čistých vrstev vodivosti typu n. Při překročení určité koncentrace dochází ke změně vodivostního typu. Přídavek Tm na InP:Fe substrátech má za následek konverzi epitaxní vrstvy do semiizolačního stavu kvůli difuzi Fe zprostředkované vzácnou zeminou.
Physical properties of InP epitaxial layers prepared with dysprosium admixture
Grym, Jan ; Procházková, Olga
Physical properties of commonly prepared InP layers grown by LPE technique and those grown from Dy treated melt are compared. The layers were examined by SEM, low temperature PL spectroscopy, C-V measurements and temperature dependent Hall effect. Structural, electrical and optical properties of InP layers exhibit a significant dependence on the presence of Dy and its concentration in the melt. When increasing the concentration of Dy the reversal of electrical conductivity occurs.
Influence of rare-earth elements on InP-based semiconductor structures for radiation detectors
Grym, Jan ; Procházková, Olga
Preparation and characterization of InP epitaxial layers with Tb admixture in the growth melt is reported. Structural, electrical and optical properties of InP layers exhibit a signaficant dependence on the presence of Tb and its concentration in the melt. When increasing the concentration of Tb in the growth melt the reversal of electrical conductivity occurs.
Characterisation of InP layers prepared by the LPE method with Pr and Nd addition in the growth melt
Grym, Jan ; Procházková, Olga ; Zavadil, Jiří ; Žďánský, Karel
High purity InP epitaxial layers were grown by LPE from the melt conataining, besides essential components, also rare-earth elements admixture. The layers were examined by SEM, low temperature PL spectroscopy, C-V measurements and temperature dependent Hall effect. The behaviour and the impact of Pr and Nd were compared. The concentration of shallow impurities was reduced by up to three orders of magnitude. PL spectra were markedly narrowed and fine spectral features were resolved.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 17 záznamů.   1 - 10další  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
7 PROCHÁZKOVÁ, Olga
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.