|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů s řízeným prouděním plynů pro EREM
Kozák, Josef ; Neděla, Vilém (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem a optimalizací konstrukce experimentálního scintilačního detektoru sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop a popisem principu činnosti uvedeného detektoru. Experiment vychází ze simulací proudění plynu ve vnitřních částech detektoru a simulací drah sekundárních elektronů v elektrostatických polích detektoru. Na základě těchto simulací jsou provedeny návrhy nových konstrukčních řešení detektoru. Pro navržené konstrukce jsou opětovně realizovány simulace proudění plynu a drah elektronů. Z navržených konstrukcí detektoru jsou vybrány takové, které se jeví být vhodné pro detekci sekundárních elektronů v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu.
|
|
|
Scintilační detektor SE pro EREM
Tihlaříková, Eva ; Neděla, Vilém (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM). Využití této metody umožňuje sledování nevodivých a vlhkých vzorků bez potřeby speciálních úprav vysoušením a pokovováním. Princip spočívá v použití vyššího tlaku v komoře vzorku, pohybujícího se v rozsahu 100 až 2000 Pa. Plyn v komoře vzorku však omezuje možnosti detekce signálu. Cílem této práce je prozkoumání možnosti ovlivnění detekce signálu sekundárních elektronů pomocí elektrostatického pole. Elektrostatické pole bylo realizováno soustavou čtyř elektrod umístěných před ústí scintilačního detektoru a mělo za úkol ovlivňovat dráhy sekundárních elektronů směrem do komory detektoru. Optimalizace napětí na elektrodách byla provedena pomocí simulačního programu SIMION. Výsledky simulací byly experimentálně ověřeny na laboratorním EREM.
|
|
|
Optimalizace scintilačního detektoru pro detekci nízkoenegiových signálních elektronů v elektronové mikroskopii
Tihlaříková, Eva ; Kadlec, Jaromír (oponent) ; Uruba, Václav (oponent) ; Neděla, Vilém (vedoucí práce)
Dizertační práce se zabývá optimalizací scintilačního detektoru pro účinnou detekci nízkoenergiových signálních elektronů v komoře vzorku rastrovacího elektronového mikroskopu. Řešení vycházelo ze studia mechanismů ztrát energie signálních elektronů během jejich interakce s vodivou vrstvou a scintilátorem, které je možné studovat pomocí simulací založených na stochastické metodě Monte Carlo. Na základě testovacích simulací a srovnání jejich výsledků s dostupnými experimentálními daty byl vybrán vhodný Monte Carlo software. Následně byly kvantifikovány ztráty energie signálních elektronů rozdílných energií při jejich průchodu konkrétními vodivými vrstvami na povrchu scintilátorů a během jejich interakce se scintilátory. Výsledky simulací umožnily definovat kritéria pro optimalizaci vodivých vrstev, které byly následně naneseny na scintilátory a experimentálně měřeny ve scintilačním detektoru rastrovacího elektronového mikroskopu. Tato měření umožnila verifikovat výsledky simulací a poskytla řadu nových informací o vlivu materiálu a tloušťky vodivých vrstev, v kombinaci s materiálem scintilátoru a světlovodu. Zvýšení detekční účinnosti scintilačního detektoru s optimalizovanými vodivými vrstvami, schopného detekovat nízkoenergiové signálních elektrony, bylo experimentálně prokázáno.
|
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
SMV-2021-06: EDS analýza průmyslových vzorků
Neděla, Vilém ; Tihlaříková, Eva
Uživatelský workshop zaměřený na ovládání softwaru Esprit 2.2. fungujícího jako součást X-Ray EDS analyzátoru firmy Bruker, včetně praktických ukázek prvkových analýz vzorků speciálně vybraných objednatelem a dále základní rutiny při morfologické analýze těchto vzorků pomocí rastrovacího elektronového mikroskopu.
|
|
|
SMV-2021-05: CLSM miniaturních maleb
Neděla, Vilém ; Olbert, Martin
Vzorky byly analyzovány v konfokálním laserovém skenovacím mikroskopu vybaveném speciálním držákem vzorku pro uchycení miniatur, kompatibilním s elektronovým mikroskopem. Na vzorcích byla analyzovaná jak jejich povrchová mikrostruktura, tak jednotlivé barevné oblasti.
|
|
|
Aplikace environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM) v oboru analýzy miniatur: metodika pro specifické použití ve výzkumu miniaturního malířství
Hradil, David ; Hradilova, Janka ; Neděla, Vilém ; Tihlaříková, Eva
Metodika se zabývá zcela novým, nepoužívaným postupem neinvazivní analýzy malovaných portrétních miniatur, a to environmentálním rastrovacím elektronovým mikroskopem s energiově-disperzním rtg. spektrometrem (EREM-EDS). EREM na rozdíl od klasického rastrovacího elektronového mikroskopu (REM) umožňuje analyzovat malbu na slonovině, což není možné v prostředí tlaku plynů blížících se vakuu, kde hrozí riziko deformací a poškození vlivem vysoušení tohoto biologického materiálu. Místo inertního plynu (dusík, argon) je cílem použít v měřicí komoře směs dusíku a vodní páry o definovaném tlaku odpovídajícímu žádané relativní vlhkosti. Tak je umožněna zcela neinvazivní analýza malovaných miniaturních objektů na organických typech podložek. Metodika je rozdělená na dvě části: morfologická analýza a analýza prvkového složení. V prvním případe jde o studium morfologických detailů při velkém zvětšení (např. možnost rozlišení různých druhů podložek nebo charakterizovat jejich mikrostrukturu). Druhá část popisuje provedení prvkové analýzy ve vysokém prostorovém rozlišení (jednotlivá zrna pigmentů).
Plný text:  PDF; PDF
|
|
| |
host ::
RSS.