Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.02 vteřin. 
Complex ion beam based depth profiling of anticorrosive layers
Holeňák, Radek ; Král, Jaroslav (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Presented master’s thesis deals with the implementation of the Particle Induced X-ray Emission method in the experimental setup with the aim to supplement the family of ion beam based techniques, i.e. Rutherford Backscattering Spectrometry, Elastic Backscattering Spectrometry and Time-of-Flight/Energy Elastic Recoil Detection Analysis. The advantage of a multi-method approach is demonstrated on the transition metal alloy films containing light species, where the self-consistent analysis yields significantly improved and accurate information about stoichiometry, depth distribution and thickness of the alloy. Secondary Ion Mass Spectrometry is employed to compare and complement the obtained results.
Analýza pokročilých materiálů a struktur metodou SIMS
Holeňák, Radek ; Kalousek, Radek (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Bakalářská práce se zabývá studiem pokročilých materiálů metodou SIMS a možnostem kvantitativní analýzy pomocí dat získaných z měření. Byla provedena chemická analýza povrchu keramiky s cílem optimalizace podmínek měření. Zbytek práce využívá datový výstup z měření pro popsání vnitřní mikrostruktury materiálu. Pomocí sofistikovaných metod jsou lokalizovány a popsány Si precipitáty ve vrstvě AlSi a ověřena formace fáze MgAl2O4 ve vzorcích keramiky. Dosažení všech stanovených cílů odhaluje potenciál metody SIMS a především možnosti ve zpracování datového výstupu z měření.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.