Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 59 záznamů.  1 - 10dalšíkonec  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Apodizace Braggových vláknových mřížek vyráběných UV expozicí přes fázovou masku
Burian, Tomáš ; Hejátková, Edita (oponent) ; Urban, František (vedoucí práce)
Tato práce popisuje problematiku vláknových mřížek, zaměřuje se především na využití Braggových mřížek v senzorice. Popisuje druhy výroby vláknových mřížek, především metodu zápisu pomocí fázové masky. Další část pojednává o možnostech využití apodizace v optických vláknových systémech. Zabývá se různými funkcemi, kterými lze apodizaci znázorni. Navazující část popisuje princip moaré, především způsob překrytí dvou fázových masek s rozdílnou periodou.
Zařízení pro testování výroby
Vokřál, Jiří ; Musil, Vladislav (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Práce se zabývá návrhem a realizací testovacího zařízení pro předmontované bubínky mechatronických cylindrických vložek. Testovací zařízení je určeno pro otestování mechanické a elektronické části což zajistí, minimalizaci ztrát způsobených špatnou předmontáží, či vadnou elektronickou částí. Jelikož se nyní na závadu přijde až při závěrečném kompletním testování výrobku, bude ušetřen čas kompletní demontáže, výměny a montáže nových mechatronických částí, také bude ušetřen čas potřebný pro závěrečný test celého výrobku na testovacím přístroji.
Určování vzdálenosti a pozice pomocí ultrazvuku
Bartoš, Dalibor ; Šteffan, Pavel (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá měřením vzdálenosti pomocí ultrazvuku a možnostmi využití tohoto měření k určení polohy objektu v rovině. V první části jsou popsány principy šíření ultrazvuku, funkce piezoelektrického měniče, základy triangulace i trilaterace a rozšířené systémy parkovacích asistentů. Druhá část práce obsahuje návrhy několika algoritmů, které umožňují lokalizaci až dvou objektů současně. V poslední části práce je popsána implementace vytvořených algoritmů do softwaru a přípravky využité k ověřovacím měřením.
Emisivita a její vliv na odvod tepla
Gančev, Jan ; Hejátková, Edita (oponent) ; Szendiuch, Ivan (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá problematikou emisivity a jejího vlivu na odvod tepla. V první části jsou popsány základy tepelného managementu, problematika emisivity a jejího měření. V druhé, experimentální části, jsou měřením zjištěny hodnoty emisivit zkoumaných vzorků. Tyto hodnoty jsou poté využity jako výchozí podmínky pro tepelné simulace. V poslední části jsou srovnány naměřené a odsimulované výsledky a je vyhodnocen vliv emisivity na odvod tepla.
Testování SRAM pamětí s využitím MBIST
Sedlář, Jan ; Fujcik, Lukáš (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost.
Roughness measurement with laser profilometry
Mach, Radoslav ; Frk, Martin (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
The bachelor thesis deals with technology of laser profilometry for material roughness measurements purposes. The theoretical part deals with all aspects of the issue in an effective way and highlights the essential characteristics of used components and material roughness. The focus of this work is in first step to describe the external factors affecting the visual image processing such as increasing of environment temperature and its effect for a camera sensors. And particularly the relationship between CMOS and CCD technologies. The second step is for measuring roughness parameters of materials, such as metal, wood, rubber and plastic with three different lasers. Results demonstrate correlation between the wavelengths of the used laser lights with particular materials.
Srovnání vlastností tenkých vrstev titanu, niklu a stříbra, využívaných v polovodičové technologii
Dorotík, David ; Prášek, Jan (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Bakalářské práce byla spojená s poznáním všeobecné problematiky nanášení tenkých vrstev metodami napařování a naprašování. Přípravou substrátu a jeho čištění před deponováním tenkých vrstev. Práce byla zaměřena na vlastnosti těchto tenkých vrstev v polovodičové technologii.
Autonomní napájecí zdroj se zvýšenými požadavky na EMC
Burian, Jan ; Deneš, Roman (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá návrhem mechanické části, elektrické části a otestováním autonomního napájecího zdroje. Skládá se z výběru materiálů, návrhu tvarů a výpočtů průchodek pro obal zařízení pro zajištění potřebných elektromagnetických vlastností. Dále obsahuje volbu elektronických součástí, porovnání DC-DC měničů a konstrukci filtrů se zaměřením na co nejvyšší elektromagnetickou odolnost a co nejnižší elektromagnetické emise.
Hodoor – elektronický docházkový systém
Predný, Patrik ; Hojdík, Matěj (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou evidence docházky. Cílem práce bylo navrhnout řešení a následně vytvořit hardwarový terminál elektronického docházkové systému. Docházkový systém je založen na nejnovějších webových technologiích s použitím hardwarového mini-počítače Raspberry Pi. Budoucí použití zařízení je možné jak pro domácí, tak pro komerční účely. Systém byl distribuován pod štítkem Open Source. Výsledkem práce je fyzický prototyp klientského terminálu založeného na platformě Raspberry Pi, aplikace terminálu založená na technologií Electron a webová aplikace komunikující se serverovým řešením.
SPICE model of LDMOS structure
Loginov, Dmitrii ; Biolek, Dalibor (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
In this bachelor thesis, comparison of Lateral Double-diffused MOS against conventional MOS structure is presented. Anomalous effects, issues that this high-voltage device brings to modeling and characterization, and theoretical analysis of this type of structure are described in the first chapter. Next part of this project is focused on possible approaches in characterization that is used in the semiconductor industry, of LDMOS. The BSIM methodology, described in chapter two, has been chosen to create a DC and CV model of an n-type LDMOS device measured at the ON semiconductor laboratory. The steps of characterization, such as measurement, tuning of characteristics to an optimized BSIM4 parameter set are reported in the last chapters of this work.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 59 záznamů.   1 - 10dalšíkonec  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.