Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Kalibrace a interpretace obrazových dat měřených zařízením LEEM
Endstrasser, Zdeněk ; Novák, Jiří (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vývojem softwaru určeného ke kalibraci a interpretaci obrazových dat měřených zařízením LEEM. Vzhledem k tomu, že je tato zobrazovací metoda vhodná zejména pro in-situ studie dynamických procesů probíhajících na površích, je pozornost věnována zejména metodám umožňujícím vyhodnocení časových sérií měření. Pro kompenzaci teplotního posunu mezi po sobě jdoucími snímky je navržena metoda fázové korelace založená na Fourierově transformaci obrazů. Dále jsou popsány metody filtrace aditivního a impulsního šumu, vizualizace obrazu, filtrace sekundárních elektronů a stanovení I-V křivek ze změřených obrazových dat. Implementované metody jsou popsány nejen z hlediska jejich matematického původu, ale důraz je kladen rovněž na odhalení kritických aspektů spojených s jejich použitím. Obsahem práce je rovněž aplikace vytvořeného algoritmu na obrazová data zachycující prostorový a časový vývoj povrchových fází 4,4’-bifenyl-dikarboxylové kyseliny indukovaných žíháním vzorku. Na základě těchto vyhodnocení je poté stanoven vhodný postup pro provedení přesné detekce a kompenzace zmíněného teplotního posunu.
Kvantifikace vodíku pomocí elektronové spektroskopie
Endstrasser, Zdeněk ; Polčák, Josef (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Absence vodíku ve fotoelektronovém spektru zůstává jedním z největších omezení rentgenové fotoelektronové spektroskopie. Hlavním cílem této práce je proto stanovení koncentrace vodíkových atomů ve zkoumaných vzorcích. K tomu účelu je využita elektronově spektroskopická metoda REELS založená na kvazi-elastickém rozptylu elektronů. Volba této metody byla určena zejména skutečností, že fotoelektronové spektrometry obsahují elektronový zdroj v základní výbavě, a pro provedení potřebných měření je tak využita pouze jediná aparatura. V našem případě byla měření provedena na fotoelektronovém spektrometru AXIS Supra v laboratořích CEITEC. V této práci jsme se primárně věnovali polymerním vzorkům, jejichž povrchová vrstva byla odprášena použitím iontových klastrů. Na takto očištěných vzorcích byla provedena měření XPS a REELS. Získaná data byla následně vyhodnocena a výsledky diskutovány. Zásadním výstupem této práce je především stanovení metodologie detekce a kvantifikace vodíkových atomů. Pozornost je však také věnována teoretickému popisu užitých metod a zhodnocení kritických aspektům spojeným s použitím metody REELS. Diskutován je zejména vliv nabíjení vzorku a elektronové dávky na výsledky měření.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.