Hlavní stránka > Výsledky hledání: Dapor, M.
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
 Rodenburg, C. ; Masters, R. ; Abrams, K. ; Dapor, M. ; Krátký, Stanislav ; Mika, Filip
A link between peaks in secondary electron (SE) spectra and Electron Energy Loss Spectra\n(EELS) was shown decades ago. Also, materials properties (bulk modulus, band gap)\ncorrelate with the bulk plasmon position in EELS, and local modulus maps in carbon fibres\nhave been presented. If any features as result of plasmon decay into SE can be identified,\nSE spectroscopy combined with hyperspectral imaging could transform the SEM into a tool\nfor mapping materials properties with ground-breaking potential for nanotechnology. To\nbecome a reality, we first need to establish SE collection conditions spectra that represent a\nmaterial reliably. Second, we need to gain a better understanding of the processes involved in the SE emission processes.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English