|
|
Výroba a charakterizace plazmonických nanostruktur
Bačo, Ondřej ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Předkládaná bakalářská práce se zabývá přípravou a charakterizací plazmonických nanostruktur. Pro přípravu těchto struktur byl použit grafen na dopovaném křemíkovém substrátu s 285nm vrstvou oxidu křemičitého. Grafenové pruhy o šířce řádově stovek nanometrů byly vyrobeny za použití metod elektronové litografie (EBL) a reaktivního iontového leptání (RIE). Jednotlivé fáze přípravy byly monitorovány pomocí optické mikroskopie a mikroskopie atomárních sil (AFM). Vlastnosti výsledných grafenových nanostruktur byly charakterizovány rastrovacím elektronovým mikroskopem (SEM) a infračerveným spektrometrem s Fourierovou transformací (FTIR).
|
|
|
Design of the Transmission Electron Microscope projection system for the Single Particle Analysis
Bačo, Ondřej ; Tiemeijer, Peter (oponent) ; Sháněl, Ondřej (vedoucí práce)
This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method.
|
|
|
Design of the Transmission Electron Microscope projection system for the Single Particle Analysis
Bačo, Ondřej ; Tiemeijer, Peter (oponent) ; Sháněl, Ondřej (vedoucí práce)
This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method.
|
|
|
Výroba a charakterizace plazmonických nanostruktur
Bačo, Ondřej ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Předkládaná bakalářská práce se zabývá přípravou a charakterizací plazmonických nanostruktur. Pro přípravu těchto struktur byl použit grafen na dopovaném křemíkovém substrátu s 285nm vrstvou oxidu křemičitého. Grafenové pruhy o šířce řádově stovek nanometrů byly vyrobeny za použití metod elektronové litografie (EBL) a reaktivního iontového leptání (RIE). Jednotlivé fáze přípravy byly monitorovány pomocí optické mikroskopie a mikroskopie atomárních sil (AFM). Vlastnosti výsledných grafenových nanostruktur byly charakterizovány rastrovacím elektronovým mikroskopem (SEM) a infračerveným spektrometrem s Fourierovou transformací (FTIR).
|
host ::
RSS.