Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Měření lokálních charakteristik paasivních elektrických součástek
Šikula, Radek ; Kubánek, David (oponent) ; Tománek, Pavel (vedoucí práce)
Bakalářská práce je zaměřena na nově koncipované lokální měření charakteristik elektrických, případně optoelektrických součástek. S tím, jak se dle Moorova zákona zmenšují rozměry aktivních součástek na čipech, existují i snahy o odpovídající zmenšování pasivních elektrických součástek, při současném zvyšování, nebo alespoň zachování jejich parametrů. Ukazuje se, že problémy zmenšování jsou spojeny s existencí fyzikálních mezí použitých materiálů a konec konců i s nemožností měření lokálních vlastností součástek pomocí klasických elektrických měřicích metod. Právě v oblasti fyzikálních mezí začínají být vážným problémem defekty v materiálech, které při malých rozměrech součástek mohou značně ovlivnit účinnost, výkon, životnost a spolehlivost zařízení. Měření provedená na pasivních i aktivních součástkách vykazují vyšší rozlišovací schopnost defektů na povrchu vybraných součástek než umožňují stávající metody. 1) Z výsledků měření na kondenzátorech vyplývá, že existuje několik možných příčin, proč u nich dochází k průrazům, např. mechanické defekty, nebo přítomnost nečistoty či krystaly oxidu v dielektriku. 2) Měření provedená na fotodiodě umožnila zviditelnit proud minoritních nosičů a zobrazit jejich dobu života. Navíc se ukazuje, že doba života minoritních nosičů pochází hlavně z objemová rekombinace.
Skenovací fotoeleasticimetrie
Šikula, Radek ; Palai-Dany, Tomáš (oponent) ; Škarvada, Pavel (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá problematikou polarizace světla a jejího využití ve fotoelasticimetrii. Teoretická část je rozdělena na dvě části. V první části je popsáno světlo jako elektromagnetické vlnění, dále jsou popsány druhy polarizací a je vysvětlen princip fotoelasticimetrie. Popis elektroniky je ve druhé části. V praktické části je navržen, zkonstruován a naprogramován driver pro ovládání skenovacího zařízení. V poslední části je ověřena metoda fotoelasticimetrie pomocí simulace a také pomocí skenovací metody.

Viz též: podobná jména autorů
2 Šikula, Roman
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.