Název:
Testování polovodičových detektorů pomocí svazku nabitých částic
Překlad názvu:
Testing Semiconductor Detectors Using Beam of Charged Particles
Autoři:
Scheirich, Daniel ; Kodyš, Peter (vedoucí práce) ; Davídek, Tomáš (oponent) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2006
Jazyk:
cze