Název: Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii
Překlad názvu: Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy
Autoři: Vykydal, Václav ; Valterová, Eva (oponent) ; Kolář, Radim (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2019
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Práce je zaměřena na vliv radiačního poškození vzorků v nízkonapěťové transmisní elektronové mikroskopii. V práci se nachází obecný popis transmisních elektronových mikroskopů a jejich důležitých částí. Je zde popsán způsob poškození vzorků ozářených primárním svazkem elektronů, jak se připravují vzorky pro elektronovou mikroskopii a k jaké degradaci vzorků dochází z hlediska materiálu vzorku a časovému zatížení primárním elektronovým svazkem. This thesis is focused on Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy. In thesis is general description of transmission electron microscopy and their important parts. There is described how samples are damaged by primary electron beam and how samples for transmission electron microscopy are prepared and which degradation occurs from the point of view materials of sample and time dose of electrons from primary electron beam.
Klíčová slova: Nízkonapěťová transmisní elektronová mikroskopie; Primární elektronový svazek; Příprava vzorků pro TEM; Radiační poškození vzorků; Low-voltage transmission electron Microscopy; Primary electron beam; Radiation damage of samples; Sample preparation for TEM

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/177646

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-400992


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce