Název: Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer
Autoři: Zouhar, Martin ; Radlička, Tomáš ; Oral, Martin ; Konvalina, Ivo
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, Skalský dvůr (CZ), 20180604
Rok: 2018
Jazyk: eng
Abstrakt: The inelastic mean free path (IMFP) is a key parameter of electron transport in a solid. With\nthe rise of so-called meta-materials, materials of specific shape, such as 2D crystals, or\nmaterials with tailored functionality for next-generation electronic devices, the investigation\nof the IMFP is still topical and of high importance. This is true especially at low energies, landing energy of electrons below 100 eV, that are hard to study using well established\ntechniques of electron spectroscopy.
Klíčová slova: electron microscopy; inelastic mean free path; low energy; time of flight
Číslo projektu: TE01020118 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA TA ČR
Zdrojový dokument: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar, ISBN 978-80-87441-23-7

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0287642

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-387519


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2018-11-15, naposledy upraven 2022-09-29.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet