Název: Microstructural Defects of Solar Cells Investigated by a Variety Diagnostics Methods
Autoři: Škvarenina, L’ubomír
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This paper discusses the application of a variety diagnostic methods applicable to the solar cells. More objective results about solar cells quality and reliability are possible to obtain by using a various methods. Diagnostic methods described in this paper are based on a dark and illuminated J–V characteristics, a investigation of noise in a wide range of frequency and a radiation detection at a di erent spectral range, namely by an electroluminescence and a thermography method. These methods are primarily more appropriate for a detection or a localization of microstructure defects when a reverse-bias stress is applied. However, the analysis of a forward-bias conditions is included in an investigation of J–V characteristics as well.
Klíčová slova: Defects; Electroluminescence; J–V curve; Noise; Solar Cells; Thermal Imaging
Zdrojový dokument: Proceedings of the 22st Conference STUDENT EEICT 2016, ISBN 978-80-214-5350-0

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/84031

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-383749


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2018-07-30, naposledy upraven 2018-07-30.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet