Original title:
Testování SRAM pamětí s využitím MBIST
Translated title:
SRAM memories testing with utilization of memory built-in-self-test
Authors:
Sedlář, Jan ; Fujcik, Lukáš (referee) ; Hejátková, Edita (advisor) Document type: Master’s theses
Year:
2018
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost.
The project deals with the testing of SRAM memories using method MBIST with the utilisation of sofware tool Tessent Memory BIST. The main purpose is to get familiar with memory testing and to create a design for testing on a specific chip which after its implementation on the chip will retain the original features and functions. Subsequently, the tool is evaluated on its usability.
Keywords:
Chip; JTAG; MBIST; Memory test; SRAM; Tessent; JTAG; MBIST; SRAM; Tessent; Test paměti; Čip
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/80934