Název: Interferometrický systém pro měření deformace tenkých membrán
Překlad názvu: Interferometrical system for bulge test thin film characterization
Autoři: Pikálek, Tomáš ; Holzer, Jakub ; Tinoco, H.A. ; Buchta, Zdeněk ; Lazar, Josef ; Chlupová, Alice ; Náhlík, Luboš ; Sobota, Jaroslav ; Fořt, Tomáš ; Kruml, Tomáš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: LASER57, Třešť (CZ), 20171108
Rok: 2017
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: interferometry; thin layers
Číslo projektu: ED0017/01/01, LO1212 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA MŠk, GA MŠk
Zdrojový dokument: Sborník příspěvků multioborové konference LASER57, ISBN 978-80-87441-21-3

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0278470

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-370672


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2017-12-20, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet