Název: Mechanické a elektrické vlastnosti tenkých vrstev mikrokrystalického křemíku
Překlad názvu: Mechanical and Electrical Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films
Autoři: Vetushka, Aliaksei ; Fejfar, Antonín (vedoucí práce) ; Čech, Vladimír (oponent) ; Sládek, Petr (oponent)
Typ dokumentu: Disertační práce
Rok: 2011
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: Atomic force microscopy; Chemical vapor deposition; Mechanical stress; Microcrystalline silicon; Raman scattering; Raman spectroscopy

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/34652

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-299123


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce
 Záznam vytvořen dne 2017-05-09, naposledy upraven 2022-03-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet