Název:
Aproximace Fourierových koeficientů difrakčních profilů
Překlad názvu:
Approximations of Fourier coefficients of diffractions profiles
Autoři:
Čerňanský, Marian Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Struktura 2016, Colloquium of the Czech and Slovak Crystallographic Association, Tábor (CZ), 20160912
Rok:
2016
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Je podán stručný přehled aproximací, které se vyskytují ve Warrenově–Averbachově interpretaci Fourierových koeficientů difrakčních profilů. Je ukázáno, že jisté aproximace průběhu Fourierových koeficientů umožňují stanovit velikost krystalitů a mikrodeformací jen z jedné difrakční linie.\n\nApproximations in the Warren-Averbach interpretation of Fourier coeeficients of diffraction profiles are briefly summarized. It is shown, that certain approximations of a course of Fourier coefficients enable estimate of crystallite size and microstrain only from a single diffraction line.
Klíčová slova:
crystallite size; Fourier coefficients; line profile analysis; microstrain Zdrojový dokument: Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Struktura 2016, ISSN 1211-5894
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0268829