TY - THES TI - Statistické řízení procesů ve výrobě monitorů LCD TT - SPC for LCD monitors production AU - Hořký, Petr AB - Statistical Process Control (SPC) is currently the most widely used analytic methods to monitor, control and improve the quality of manufactured product. The application of SPC is demonstrated by practical example from the LCD monitor production environment with a focus on LCD backlight sources analysis. The objective is to become familiar with the applied methods and SPC software support. AB - Zkratka SPC z anglického označení Statistical Process Control je statistické řízení procesů, které patří v současné době k nejužívanějším analytickým metodám umožňující sledovat, řídit a zlepšovat kvalitu vyráběného produktu. Použití SPC demonstruji na praktickém příkladu z prostředí výroby LCD monitorů se zaměřením na analýzu zdrojů podsvícení displejů LCD. Cílem je seznámení s aplikovanými metodami a softwarovou podporou statistického řízení. UR - http://www.nusl.cz/ntk/nusl-240650 UR - http://hdl.handle.net/11012/1260 A2 - Novotný, Radovan A2 - Kosina, Petr LA - cze KW - Statistické řízní procesů Histogram Regulační diagram Hodnocení způsobilosti Variabilita Test normality Minitab Svítivost LCD monitor KW - Statistical Process Control Histogram Control Chart Process Capability Variability Normality test Minitab Luminance LCD Monitor PY - 2011 PB - Vysoké učení technické v Brně‎, Antonínská 548/1, 601 90 Brno, http://www.vutbr.cz/ ER -